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          頂點光電子商城2023年8月29日消息：近日，聚時科技成功出機高精度晶圓級光學缺陷檢測設備，開始部署交付國內某新銳集成電路企業。

          高精度晶圓級光學缺陷檢測設備是用于在半導體制造過程中對晶圓表面進行檢測的設備。晶圓級光學缺陷檢測在芯片制造過程中起著關鍵作用，因為即使微小的缺陷也可能導致芯片性能不穩定或故障。這些設備利用光學技術來掃描晶圓表面，以檢測并分析可能影響芯片質量的缺陷。

           聚時科技已建立相對完整的產品矩陣，其中MatrixSemi系列高精度晶圓級光學缺陷檢測量測產品，覆蓋應用于前道制程、先進封裝、第三代半導體化合物襯底檢測等眾多工藝場景。憑借創新的大規模深度學習引擎、高精度微納光學系統、高精密傳輸系統和高速運動臺系統、圖形圖像處理專用系統，打造了系列化半導體高精度檢測量測設備。

          晶圓級光學缺陷檢測設備在半導體制造行業中扮演著關鍵角色，有助于確保生產的芯片質量和穩定性。這種設備的發展和使用有助于提高半導體生產過程的自動化程度、生產效率和產品質量。未來，聚時科技將繼續堅持技術創新，持續加大研發投入、立足客戶實際需求，為客戶提供更好的硬科技產品與高質量服務。