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          頂點(diǎn)光電子商城2023年8月29日消息：近日，聚時(shí)科技成功出機(jī)高精度晶圓級(jí)光學(xué)缺陷檢測(cè)設(shè)備，開(kāi)始部署交付國(guó)內(nèi)某新銳集成電路企業(yè)。

          高精度晶圓級(jí)光學(xué)缺陷檢測(cè)設(shè)備是用于在半導(dǎo)體制造過(guò)程中對(duì)晶圓表面進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。晶圓級(jí)光學(xué)缺陷檢測(cè)在芯片制造過(guò)程中起著關(guān)鍵作用，因?yàn)榧词刮⑿〉娜毕菀部赡軐?dǎo)致芯片性能不穩(wěn)定或故障。這些設(shè)備利用光學(xué)技術(shù)來(lái)掃描晶圓表面，以檢測(cè)并分析可能影響芯片質(zhì)量的缺陷。

           聚時(shí)科技已建立相對(duì)完整的產(chǎn)品矩陣，其中MatrixSemi系列高精度晶圓級(jí)光學(xué)缺陷檢測(cè)量測(cè)產(chǎn)品，覆蓋應(yīng)用于前道制程、先進(jìn)封裝、第三代半導(dǎo)體化合物襯底檢測(cè)等眾多工藝場(chǎng)景。憑借創(chuàng)新的大規(guī)模深度學(xué)習(xí)引擎、高精度微納光學(xué)系統(tǒng)、高精密傳輸系統(tǒng)和高速運(yùn)動(dòng)臺(tái)系統(tǒng)、圖形圖像處理專(zhuān)用系統(tǒng)，打造了系列化半導(dǎo)體高精度檢測(cè)量測(cè)設(shè)備。

          晶圓級(jí)光學(xué)缺陷檢測(cè)設(shè)備在半導(dǎo)體制造行業(yè)中扮演著關(guān)鍵角色，有助于確保生產(chǎn)的芯片質(zhì)量和穩(wěn)定性。這種設(shè)備的發(fā)展和使用有助于提高半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程的自動(dòng)化程度、生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。未來(lái)，聚時(shí)科技將繼續(xù)堅(jiān)持技術(shù)創(chuàng)新，持續(xù)加大研發(fā)投入、立足客戶實(shí)際需求，為客戶提供更好的硬科技產(chǎn)品與高質(zhì)量服務(wù)。